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IC芯片检测二箱式冷热冲击试验箱
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关键字:试验箱,冷热冲击试验箱,高低温冲击试验箱,温度冲击试验箱,三箱式冷热冲击箱,高低温试验箱
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应用领域

电子电器IC芯片、PCB电路板的热胀冷缩可靠性测试

汽车工业:传感器、电池模块的极端温度冲击验证(-65℃↔150℃循环)

航空航天:机载设备在快速温变环境下的物理性能评估

材料科研:高分子材料(塑胶、陶瓷)的耐寒耐热性分析

 

参数项

技术规格

温度范围

高温区:+60℃+200℃;低温区:-40℃-75℃(分档可选:A/-40℃、B/-55℃、C/-65℃/C/-75℃)

温度波动度

±0.5℃(试验区)

温度均匀度

≤±2.0℃(全范围)

温度转换时间

≤515秒(高低温切换)

温度恢复时间

≤5分钟(空载条件下)

升温速率

高温区:平均5℃/min(常温→200℃约2040分钟)

降温速率

低温区:平均1.5℃/min(常温→-70℃约6080分钟)

试样承重

提篮承重1550kg(金属试样按1/3计算)

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